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本檢定規程適用于新制造、使用中和維修后的側面光檢驗裝置的檢定。
一、概述
側面光檢驗裝置用于檢驗平板玻璃中存在的微小缺點(diǎn),如氣泡、夾雜物、小斑點(diǎn)、小裂紋和粘錫等,通過(guò)測定缺點(diǎn)的大小,按標準確定產(chǎn)品等級,從而起到指導和控制生產(chǎn)的作用。
側面光檢驗裝置是在暗室里將較強光線(xiàn)經(jīng)狹縫從玻璃板缺點(diǎn)。
二、技術(shù)要求
1.裝置帶有銘牌(標有型號、制造廠(chǎng)名、出廠(chǎng)編號、出廠(chǎng)日期)、合格證及說(shuō)明書(shū)。儀器不允許有影響正常工作的銹蝕、破損等缺點(diǎn)。
2.打開(kāi)儀器光源,暗箱不露光,狹縫在密閉時(shí)也不露光,狹縫的寬度在(0~25)mm間可調,開(kāi)啟及調節時(shí)無(wú)阻礙現象。
3.儀器光源為碘鎢燈,功率1000W。
4.光源距狹縫的距離為(100±20)mm。
5.玻璃試樣可在試樣架上移動(dòng),支腳表面光滑,轉動(dòng)靈活。
6.試樣架四角高度差不大于3mm。
三、檢定條件
(一)檢定環(huán)境條件
7.儀器周?chē)h(huán)境整潔,溫度(10~30)℃,相對濕度 <80%。
8.電源電壓波動(dòng)不應超過(guò)±7.0%。
9.實(shí)驗室具有擋光設施
(二)檢定器具
10.鋼卷尺 量程1000mm 分度值1mm
11. 游標卡尺 量程150mm 分度值0.02mm
四、檢定項目及檢定方法
12.外觀(guān)
根據本規程1、2條的要求進(jìn)行外觀(guān)檢查。
13.閱讀儀器說(shuō)明書(shū),檢驗是否滿(mǎn)足本規程3條的要求。
14.用游標卡尺測量光源到狹縫之間的距離,其結果應符合本規程4條的要求。
15.用觸摸支腳方法檢驗其是否符合本規程6的要求。
16.用鋼卷尺測量試樣架四角h1 …… h4,
高度差=Maxhi-Minhi
五、檢定結果處理和檢定周期
17.經(jīng)檢定合格的側面光檢驗裝置發(fā)給檢定證書(shū);檢定不合格者發(fā)給檢定結果通知書(shū)。
18.檢定周期為二年。
2025-05-08
2025-03-11
2025-02-25
2024-07-15
2023-11-01
2023-06-15
2023-06-09
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