日立9500 出售二手膜厚儀 日立膜厚測試儀詳細說(shuō)明日立 FT9500系列 X射線(xiàn)熒光鍍層厚度測量?jì)x儀器簡(jiǎn)介：X射線(xiàn)發(fā)生系統為X射線(xiàn)聚焦光學(xué)系統（聚焦導管）與X射線(xiàn)源相結合，并且可以照射出實(shí)際照射直徑為0.1mmΦ以下高度度的X射線(xiàn)束。為此，可以對以往X射線(xiàn)熒光鍍層厚度測量?jì)x由于照射強度不足而無(wú)法得到理想精度的導線(xiàn)架、插接頭、柔性線(xiàn)路板等微小部件及薄膜進(jìn)行測量。同時(shí)搭載高計數率、高分辨率的半導體檢驗器，在測量鍍層厚度的同時(shí)，也能對RoHS、ELV、中國版RoHS等法規所管制的有害物質(zhì)進(jìn)行分析測量。技術(shù)參數：型號FT9500FT9550FT9500L測量元素Al（13）～Bi（83）X射線(xiàn)源管電壓：50（可變更）kV管電流： 10～1000 μA檢驗器半導體檢驗器（無(wú)需液氮）X射線(xiàn)聚光聚光導管方式樣品觀(guān)察CCD攝像頭（帶變焦功能）對焦激光對焦濾波器一次濾波器：3個(gè)位置（自動(dòng)切換）樣品區域X:240mm, Y:175mmX:220mm, Y:150mm, Z:150mmX:420mm, Y:330mmX:400mm, Y:300mm, Z:50mmX:840mm, Y:540mmX:400mm, Y:300mm, Z:50mm測量軟件薄膜FP法（zui大5層、10種元素）、檢量線(xiàn)法、塊體FP法（材料組成分析）安全功能樣品門(mén)聯(lián)鎖1. 薄膜及多層膜測量通過(guò)采用新型的毛細管（X射線(xiàn)聚光系統）和X射線(xiàn)源，把與以往機型FT9500同等強度的X射線(xiàn)聚集在30 μmΦ的較微小范圍。因此，不會(huì )改變測量精度即可測量幾十微米等級的微小范圍。同時(shí)，也可對幾十納米等級的Au/Pd/Ni/Cu多鍍層的各層膜厚進(jìn)行高精度測量。2. 異物分析通過(guò)高能量微小光束和高計數率檢驗器的組合，可進(jìn)行微小異物的定性分析。利用CCD攝像頭選定樣品的異物部分并照射X射線(xiàn)，通過(guò)與正常部分的能譜差進(jìn)行異物的定性分析（Al～U）。3. 數據編輯功能配備了Microsoft Excel和Microsoft Word。在Microsoft Excel上面配備了統計處理軟件，可以進(jìn)行測量數據、平均值、zui大/zui小值、C.V.值、Cpk等的統計處理。 另外，通過(guò)Microsoft Word可以簡(jiǎn)單的制作包含了樣品畫(huà)圖的測量報告書(shū)。4. 高度度照射通過(guò)高度度照射在微小部分也可以鮮明的觀(guān)察、聚焦位置。5. 樣品工作臺配備等同與FT9550X的大型樣品臺，能夠對大型線(xiàn)路板等樣品進(jìn)行整體排列測量對應。