污穢懸式絕緣子表面放電會(huì )輻射出紫外光信號,日盲紫外成像是一種非接觸式、可視化的放電檢驗方法,本文采用日盲紫外成像法研究了污穢絕緣子放電時(shí)的電信號與紫外成像參量之間的關(guān)系,在此基礎上論文針對復合絕緣子表面放電電信號強度的估計、瓷絕緣子的污穢狀態(tài)評估、絕緣狀態(tài)的評估及閃絡(luò )預警這三個(gè)方面展開(kāi)了相關(guān)的研究工作,主要工作和取得的成果如下: 分析了污穢絕緣子放電時(shí)光信號的輻射機理、光譜分布及紫外光信號的傳播衰減問(wèn)題,研究了電離區域紫外光輻射的功率與放電功率之間的關(guān)系。分析了日盲紫外成像儀尤其是紫外通道的工作原理,在此基礎上提出了基于視頻分析和數字圖像處理提取參量來(lái)量化放電的方法,定義了光斑面積參量,研究了紫外成像儀的增益對光斑面積的影響規律并進(jìn)行了理論上的解釋。 提出了一種準同步采集和分析電信號和紫外成像參量的方法,在此基礎上論文研究了光斑面積對電脈沖信號的響應特性并進(jìn)行了理論分析,研究了一段時(shí)間內的大光斑面積幀的數量與對應時(shí)間內的火花(電弧)放電的脈沖數之間的關(guān)系,研究了光斑面積與電脈沖信號幅值之間的關(guān)系,得到了相關(guān)關(guān)系曲線(xiàn)。