PA-300-MT        PA系列是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應力測量?jì)x，PA系列測量雙折射測量范圍達0-130nm，可以測量的樣品范圍從幾個(gè)毫米到近500毫米。PA系列雙折射測量?jì)x以其技術(shù)的光子晶體偏光陣列片，獨有的雙折射算法設計制造，得到每片樣品僅需幾秒鐘的測量能力，使其成為業(yè)內，特別是工業(yè)界雙折射測量/應力測量的選擇。    主要特點(diǎn)： 操作簡(jiǎn)單，測量速度可以快到3秒； 視野范圍內可一次測量，測量范圍廣； 更直觀(guān)的讀取數據，無(wú)遺漏數據點(diǎn)； 具有多種分析功能和測量結果的比較； 維護簡(jiǎn)單，不含旋轉光學(xué)濾片的機構; 高達2056x2464像素的偏振相機。 應用領(lǐng)域： 小尺寸樣品 光學(xué)鏡頭 主要技術(shù)參數：    項次            項目             具體參數 1 輸出項目           相位差【nm】，軸方向【°】，相位差與應力換算（選配）【MPa】   2 測量波長(cháng) 520nm   3 雙折射測量范圍 0-130nm   4 測量小分辨率 0.001nm   5 測量重復精度 <1nm（西格瑪）   6 視野尺寸 17.5x21mm到33x40mm（標準）   7 選配鏡頭視野 6.3x7.5mm   8 選配功能                 實(shí)時(shí)解析軟件，鏡片解析軟件，數據處理軟件，實(shí)現外部控制 測量案例：