Mikron M315X-HT系列黑體校準源包括一個(gè)控制器模塊和一個(gè)單獨的發(fā)射器外殼，發(fā)射器源的可用孔徑范圍為4 x 4（高12 x 12英寸），溫度范圍為30至600°C。 Mikron ® M315X-HT黑體校準源滿(mǎn)足紅外焦平面陣列檢測器，熱成像儀，和FLIR系統在投影場(chǎng)景和現場(chǎng)應用測試在需要更高的溫度的嚴格參數。 M315X-HT黑體源通過(guò)加熱元件電阻加熱，以提供均勻的溫度分布。兩件式系統由控制器模塊和用于發(fā)射源的單獨外殼組成。 發(fā)射器源溫度控制由數字PID控制器執行，該控制器安裝在7英寸（180毫米）高19英寸機架安裝式機箱中。    好處 從4 x 4 in到12 x 12 in的四種孔徑中選擇 校準并驗證高溫計，熱成像儀等的輸出信號。 實(shí)現高精度和可重復性 用數字PID控制器控制發(fā)射源溫度 特征 高發(fā)射率，具有穩定的穩定性和均勻性 帶有加熱元件的均勻溫度分布 配有可追溯至NIST的校準證書(shū) RS232（標準）或RS485串行通訊 穩定的RTD確保系統的長(cháng)期溫度穩定性 8至14 µm時(shí)的高有效發(fā)射率1.0 孔徑范圍（4 x 4英寸至12 x 12英寸） 高精度和高分辨率（0.1°C） 在靜止空氣環(huán)境中具有高的穩定性± 0.2°C